上海精汐电子,眼图测量培训信号完整性技术培训公司

发布日期 :2023-11-22 12:49 编号:12305243 发布IP:39.144.106.197
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供货厂家
上海精汐电子科技有限公司  
品牌
是德
测试类型
现场指导
培训项目
眼图测试
报价
6800.00元/件
联系人
唐燕(先生)销售经理
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区域
上海职业技能培训
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眼图测量培训信号完整性技术培训公司上海精汐电子上海精汐电子,眼图测量培训信号完整性技术培训公司一、眼图名字的由来和测试意义眼图(Eye Diagram),实际上就是高速数字信号不同位置的数据比特按照时钟的间隔叠加在一起自然形成的一个统计分布图。随着叠加的波形数量的增加,数字信号逐渐形成了一个个类似眼睛一样的形状,我们就把这种图形叫做眼图。眼图(Eye Diagram)可以显示出数字信号的传输质量,经常用于需要对电子设备、芯片中串行数字信号或者高速数字信号进行测试及验证的场合,归根结底是对数字信号质量的一种快速而又非常直观的观测手段。消费电子中,芯片内部、芯片与芯片之间经常用到高速的信号传输,如果对应的信号质量不佳,将导致设备的不稳定、功能执行错误,甚至故障。眼图反映的是数字信号受物理器件、信道的影响,工程师可以通过眼图,迅速得到待测产品中信号的实测参数,并且可以预判在现场可能发生的问题。二、眼图的形成      对于数字信号,其高电平与低电平的变化可以有多种序列组合。以3个bit为例,可以有000-111共8中组合,在时域上将足够多的上述序列按某一个基准点对齐,然后将其波形叠加起来,就形成了眼图。对于测试仪器而言,首先从待测信号中恢复出信号的时钟信号,然后按照时钟基准来叠加出眼图予以显示。三、眼图中包含的信息       对于一幅真实的眼图,首先我们可以看出数字波形的平均上升时间(Rise Time)、下降时间(Fall Time)、上冲(Overshoot)、下冲(Undershoot)、门限电平(Threshold/Crossing Percent)等基本的电平变换的参数。信号不可能每次高低电平的电压值都保持完全一致,也不能保证每次高低电平的上升沿、下降沿都在同一时刻。由于多次信号的叠加,眼图的信号线变粗,出现模糊(Blur)的现象。所以眼图也反映了信号的噪声和抖动:在纵轴电压轴上,体现为电压的噪声(Voltage Noise);在横轴时间轴上,体现为时域的抖动(Jitter)。由于噪声和抖动,眼图上的空白区域变小。在除去抖动和噪声的基础上,眼图上空白的区域在横轴上的距离称为眼宽(Eye Width),在眼图上叠加的数据足够多时,眼宽很好的反映了传输线上信号的稳定时间;同理,眼图上空白的区域在纵轴上的距离称为眼高(Eye Height),在眼图上叠加的数据足够多时,眼高很好的反映了传输线上信号的噪声容限,同时,眼图中眼高大max的地方,即为正确判决时刻。数字信号在采样前后,需要有一定的建立时间(Setup Time)和保持时间(Hold Time),数字信号在这一段时间内应保持稳定,才能保证正确采样。而对于输入电平的判决,需要高电平的电压值高于输入高电平VIH,低电平的电压值地与输入低电平VIL。所以,我们可以得知采样时刻参数。四、眼图测试常用的标准协议Full-Featured and USB 2.0 Type-C cables are supportedUSB Type-C to USB Type-C (Type-C 3.1, USB 3.2 and earlier specifications).USB Type-C to USB Standard-A (USB 3.2 and earlier version specifications)USB Type-C to USB Micro-B (USB 3.2 and earlier version specifications)USB Type C to USB Standard-B (USB 3.2 and earlier version specifications)USB Standard-A to USB Micro-B (USB 3.2 and earlier version specifications)USB Standard-A to USB Standard-B (USB 3.2 and earlier version specifications)              HDMI Type A to HDMI Type A (HDMI 2.1 and earlier version specifications)DisplayPort to DisplayPort (DisplayPort 1.4 and early version specifications)五、眼图的测试项目:消光比眼交叉比信号上升时间与下降时间Q因子(Q Factor)平均功率抖动六、眼图测试适用产品USB C–CUSB A–CUSB C- μBUSB A- μBHDMI–HDMI (HDMI2.1)DP–DP(DP1.4)包含上述接口的:通信信息技术设备、工业设备、医疗器械、汽车电子、音视频、航天航等中告诉信号产品。七、眼图的判断标准在实际测试时,为了提高测试效率,经常使用的方法是Mask Testing。即根据信号传输的需求,在眼图上规定一个区域(一般为菱形区域),要求左右的信号全部出现在这个区域之外(睁眼),一旦菱形区域内有出现信号(既闭眼),则宣布测试未通过。在对于一个眼图进行好和坏的评估时,通常都有一些常见的衡量指标,比如眼高,眼宽,抖动,占空比等,如上图。通过对眼睛不同部位的表征,可以快速地判断和定性信号的问题。比如眼图跳变沿交叉点的上下区域可以代表占空比,如果上下区域比例不对称,则代表占空比的结果可能存在问题。不同的眼图可以反映不同的信号质量,对于有经验的工程师可以从眼图上发现信号是否存在阻抗不匹配导致的反射,以及某种抖动成分偏大,甚至知道如何来优化眼图质量。总体来说:眼图的张开度与抖动和BER相关联;眼图张开越大,表明对噪声和抖动的容许误差越大;眼图张开越大,表明接收器判断灵敏度越好;眼顶、眼底和转换区域宽表明接收器判断灵敏度降低 八、信号完整性测试项目可以分为以下几大类1. USB接口USB2.0测试、USB3.0测试、USB3.0测试、USB3.1测试、USB3.2测试2. 网络接口10M base-T测试、100M base-T测试、1000M base-T测试、2.5G Nbase-T测试、5G Nbase-T测试、10G Nbase-T测试、2.5G Mbase-T测试、5G Mbase-T测试、10G Mbase-T测试3. 显示接口(VGA/DVI/HDMI/Display Port/EDP/)VGA测试、DVI测试、HDMI1.2测试、HDMI1.4测试、HDMI2.0测试、HDMI2.1测试、EDP1.2测试、EDP1.4测试、Display Por1.2.1.4.2.0测试4. 存储类总线(DDR/EMMC/NOR Flash/NAND Flash)DDR2.3.4.5测试、LPDDR3.4测试、Flash测试5. 传输类总线(PCIe/SATA/MIPI/LVDS)PCIe2.0测试、PCIe3.0测试、PCIe4.0测试、SATA2.0测试、SATA3.0测试、MIPI DPHY测试、MIPI MPHY测试、LVDC测试6. 低速总线LPC/COM/PS2/I2C/SMBUS/UARTLPC测试、COM测试、PS2测试、I2C测试、SMBUS测试、UART测试7. 其他信号Power Ripple-Noise/Power Sequence/Clock/RST8. Power Ripple测试、Power Noise 测试、Power Sequence测试、Power RST测试、Clock测试9. TDR测试TDR测试上海精汐电子科技有限公司是一家提供电子仪器销售,租赁,维修及售前售后技术服务为一体的电子科技公司。 简称 “精汐电子”,公司货物来源宽广,销售市场广泛,售后服务快捷。通过与分销伙伴的紧密合作,凭借覆盖国内的网络营销服务,致力于为客户提供专注、方便、快捷的本地化服务。以科技铸就信赖、以技术服务社会。我公司与众多仪器厂家有着良好的合作关系,能提供专注的服务、优质的产品、优惠的价格。自成立以来,秉承“一切为客户着想”的服务理念,并在国内外各厂商的支持下,本着"以人为本、科学管理、价格公道、优质服务"的思想,深得各地经销商和终端用户朋友的信赖和认同。免责声明本手册仅供参考,不构成任何的合约或承诺,上海精汐电子科技有限公司试图在本手册中提供准确的信息,但不保证手册内容不含有技术性描述误差或印刷性错误,上海精汐电子对此不承担任何责任。上海精汐电子保留在没有通知或提示的情况下对本手册内容进行修改的权利。
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